芯片分选设备

H-7000全自动芯片测试设备

H-7000全自动芯片测试设备

产品特点:

★本设备是针对托盘上料产品,对产品进行有序测试按测试结果自动分选 BIN 别至 tray,并自动堆叠收集。代替人工,减少人工对产品的干预,提高生产效率;
★本设备按总体功能可分为上料区、测试区、镭雕二维码识别(option)、分选取四个部分;
★机械手附带8个真空吸附组件,每路真空状态可单独监测,并能实现异常报警提醒,可实时监控;测试移载机械手的吸嘴间距可等间距调节间距,间距可设定;
★整机配置 28 组测试模块,每组测试模块设置 8 个测试通道,整机共 224 个通道,支持 8 通道同测,单通道可关闭;
★操作界面简单易懂,界面人性化,操作员能够在短时间内熟悉设备的一系列操作。

产品规格:

项目

规格

型号

H-7000

尺寸及重量

3700×2000×1950(mm),Weight:2700Kg     (根据通道数变化)

电、气源及功率

AC3800V±5%、50±2Hz;Φ10Input,0.5-0.7MPa(0.5MPa TYP.),15-18L/min;4KW

供料器配置

Empty×1,Loader×1,UnL×4

容量及测试环境

Max:256Dut;常温、高温(Max:150±2℃)

压条最大输出力

P=0.5Mpa,Fmax=82Kgf

移载机械手规格

测试移载机器人:直线电机,XYZ 一组,1×8吸嘴,自动间距调整。

UPH&Jam Rate

UPH:1200   J-R<1/5000

适应封装形式

QFN,QFP,BGA,LGA,PGA,TSOP,CSP

通讯方式

RS232,Network,GPIB,TTL ,(仅一个测试PC和主控PC通讯)

ESD&音噪

<100V,离子发生器,多点Gp;设备1m周边检测点≤75dB。



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